DIC是微分干涉（Differential Interference Contrast）的縮寫，以下是對(duì)DIC觀察方式的詳細(xì)介紹：

一、DIC的成像原理

DIC成像可以分為三段過(guò)程理解：產(chǎn)生方向垂直的兩束偏振光，兩束光通過(guò)樣品形成相位差變化，Z后將相位差轉(zhuǎn)化成明暗區(qū)別。具體過(guò)程如下：

產(chǎn)生偏振光：光源通過(guò)起偏器產(chǎn)生特定振動(dòng)方向的偏振光，經(jīng)過(guò)DIC棱鏡將偏振光變?yōu)閮墒穹恢碌较虼怪钡钠窆?。這兩束偏振光之間存在極小的裂隙（即兩束光照在樣本上的位置相距很近，小于顯微鏡的分辨率，因此不會(huì)產(chǎn)生重影現(xiàn)象）與相位差。

相位差變化：兩束偏振光經(jīng)過(guò)樣本后，由于樣本中存在不同厚度和折射率，加大兩束偏振光的相位差。

明暗區(qū)別：相位差改變的兩束偏振光被上DIC棱鏡重新匯合，再通過(guò)檢偏鏡形成建設(shè)性干涉（變亮）和破壞性干涉（變暗），樣品的細(xì)節(jié)得以呈現(xiàn)，同時(shí)在光束裂隙的方向上呈現(xiàn)出三維立體的浮雕效果。

二、DIC顯微鏡的構(gòu)成

DIC顯微鏡的核心配件包括起偏器、檢偏器、無(wú)應(yīng)力物鏡，以及DIC核心配件（帶滑動(dòng)器DIC棱鏡）。特殊配置可能還有de Sénarmont補(bǔ)償器等配件。

起偏器：將自然光轉(zhuǎn)化成偏振光，放置在光源和聚光鏡之間。

檢偏器：轉(zhuǎn)化有相位差的偏振光為有明暗差異的成像，放置在DIC棱鏡與管鏡之前，在物鏡之后，通常在物鏡轉(zhuǎn)盤。檢偏器跟起偏器組成正交偏光配置。

DIC棱鏡：由兩片沿對(duì)角線切開(kāi)的石英楔子膠結(jié)組成的分光器，用于將一束偏振光分解為兩束垂直的偏振光，或者反過(guò)來(lái)將兩束偏振光合成一組偏振光。DIC棱鏡有滑行器，用于旋轉(zhuǎn)鏡片調(diào)整方向。透射配置需要一對(duì)DIC棱鏡，反射配置只需要一個(gè)。

DIC物鏡：DIC物鏡上面會(huì)有DIC字樣，規(guī)格Z低要求是無(wú)應(yīng)力物鏡，消色差可以是平場(chǎng)消色差或以上。部分新工藝新材料制造的APO復(fù)消色差物鏡也是無(wú)應(yīng)力物鏡，雖然沒(méi)有DIC字樣，也可以作為DIC物鏡使用。在一些DIC顯微鏡中，DIC物鏡要與物鏡棱鏡搭配使用，不同倍數(shù)搭配不同的棱鏡，這些物鏡棱鏡是小型化的DIC棱鏡。這些顯微鏡的物鏡轉(zhuǎn)盤每個(gè)孔位都有一個(gè)插槽用于安裝物鏡棱鏡，而這些DIC物鏡上除了“DIC"字樣，還有特殊的數(shù)字或英文標(biāo)記，比如“N2"“M"之類，用于指示搭配的物鏡棱鏡。

三、DIC觀察方式的特點(diǎn)

強(qiáng)立體感：DIC成像Z大特點(diǎn)是強(qiáng)立體感，在透明細(xì)胞成像中，細(xì)胞核、線粒體等大細(xì)胞器會(huì)有很強(qiáng)的立體感，因此特別適合顯微操作，比如基因注入、核移植、轉(zhuǎn)基因等。

豐富細(xì)節(jié)：DIC成像中聚光鏡光闌是全開(kāi)的，因此可以獲得更高的數(shù)值孔徑，得到的細(xì)節(jié)比相襯、斜照明更好。

無(wú)光學(xué)瑕疵：相襯觀察會(huì)有光暈偽影，斜照明可以找到照明不均勻?qū)е碌恼麄€(gè)畫(huà)面明暗漸變，還有較大色散，而調(diào)試良好的DIC成像沒(méi)有光學(xué)瑕疵，在透明樣品成像中通常會(huì)得到純凈、灰白的背景。

四、DIC觀察方式的應(yīng)用

生物學(xué)領(lǐng)域：DIC是透明樣品成像效果更好的方法，因此在細(xì)胞、酵母、線蟲(chóng)、微小生物等透明樣品研究中，常作為相襯觀察的高級(jí)替代方案，通常搭配熒光成像用在論文配圖中。

電子質(zhì)檢領(lǐng)域：在液晶面板質(zhì)檢等電子質(zhì)檢領(lǐng)域中，很多材料細(xì)節(jié)和處理瑕疵都是常規(guī)照明方式下難以觀察的，而DIC就是非常適合這種需求的觀察方式。比如在液晶面板ACF層結(jié)構(gòu)中有導(dǎo)電粒子，其填充情況對(duì)面板良率有極大影響，使用DIC照明可以看到導(dǎo)電粒子形成的微小凸起，從而快速評(píng)估工藝結(jié)果是否符合預(yù)期。此外液晶屏噴漆的漆體顆粒、液晶屏細(xì)微劃痕等瑕疵，也可以使用DIC觀察發(fā)現(xiàn)。

PCB質(zhì)檢：焊盤的劃痕和缺陷、基板的缺陷和異常都可以在DIC觀察中清晰發(fā)現(xiàn)，而在常規(guī)環(huán)形燈照明和落設(shè)照明中都無(wú)法發(fā)現(xiàn)這些細(xì)節(jié)。

此外，DIC觀察方式還有一定的限制，例如它不適合塑料培養(yǎng)皿，因?yàn)樗芰吓囵B(yǎng)皿會(huì)破壞偏振光的方向性，從而降低Z終成像的對(duì)比度。